低空洞高可靠焊接,就像给芯片“铺路”,既要焊得牢,又要传热快。功率芯片一工作,瞬间变身“小火炉”,热量蹭蹭往上涨,全靠焊接层快速散热。但如果焊接层里藏了气泡空洞,就像路上突然多了几个障碍物,热量堵在半路,芯片迟早被“烤糊”!为了消除这些路障,我们深入研究焊接材料,反复试验,最终筛选出真空回流焊接专用的高可靠焊料,既能焊得结实,又不会因二次高温“翻车”。同时,我们还破解了空洞形成的“元凶”,优化焊接工艺,成功攻克这一技术难题,让散热在芯片上最大可能畅通无阻!

大功率模组的塑封,就像给精密电子部件穿上一件“铠甲”,需要用特殊材料像浇筑水泥一样把模组严实包裹起来,既要防潮防尘,又要抗摔抗震,让器件在恶劣环境中也能稳如泰山。但这件“铠甲”不好打造,塑封料太硬会像脆饼干一样开裂,太软又扛不住高温;封装时稍有不慎,内部就像千层酥一样分层剥落;更棘手的是,陶瓷基板这个“骨架”还可能被塑封应力“勒”出裂纹。

我们像调配秘方药剂一样反复试验塑封材料,又像“微雕”般精益求精优化工艺参数和模组结构,终于让这个“防护罩”既坚固又服帖。

初代模组研发过程中,难题接踵而至,还有一次是在EMS厂的技术攻关。当时,我们正在集中解决芯片焊接空洞问题,但到达产线后,就发现另一个棘手问题,产线工人频繁对塑封模组的端子进行返工焊接。

这引起了我的警觉,我们调研后发现端子在焊接时因定位偏移导致悬空,造成焊接不良。真是“摁下葫芦浮起瓢”,当时芯片焊接空洞问题还没彻底解决,端子焊接不良的难题又冒了出来。面对双重挑战,我们不得不双线作战,同时推进两项技术攻关。

为了尽快突破,我们与EMS工厂组建联合攻关团队,夜以继日地分析、试验、优化。经过近两个月的奋战,终于锁定了问题的根源:焊接工艺参数和定位精度的匹配欠佳,并成功找到了解决方案。

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